Home 
|
 About Us 
|
 Locations 
|
 Services 
|
 News 
|
 Career Center 
|
 Contact Us 
|
 Site Map 
 
Intertek Analyses Chalon > Analyses de Surface Microstructures et nanometrique

Analyses de surface: microstructures et analyses de surface a l’échelle nanométrique

Les laboratoires Microstructures et analyses de surfaces en Europe, Australie et Etats Unis offrent des services techniques avancés pour la mesure de caractéristiques microscopique ou de dimension nanométriques. Ces techniques sont adaptées pour l’analyse de poussières,dépôts,contaminations, particules, résidus dans des filtres et pour de nombreuses autres applications.

Les analyses structurales incluent les analyses de matériaux, polymères, films, couches et multicouches, composés pour la pharmacie, matières premières, métaux, plastiques, céramiques, verres, produits alimentaires, poussières, contaminants et autres produits et autres analyses physiques et chimiques sur particules.

Les laboratoires offrent des analyses élémentaires d’échantillons solides, impuretés et d’identification de défauts physiques et chimique. Nos laboratoires sont disponibles pour vous apporter leur expertise en analyses pour soutenir vos besoins en recherches, résolution de problèmes contrôle qualité ou pour répondre a tout autre exigences.

Les techniques d’analyses et de caractérisations de surfaces , microstructures a l’échelle nanométrique comprennent:
AFM: Microscopie à force atomique
XPS,/ESCA Spectroscopie de photoelectrons
Microscopie Interférométrique
SPM: Microscopie à effet tunnel
Microscopie Optique
SEA Spectroscopie d’électrons AUGER (AES)
Diffraction de Rayons X
Microscopie électronique à balayage:
Le microscope électronique à balayage (MEB) analyses la surface d’objets solides, et produits des images de très haute résolution bien supérieure à celle des microscopes optiques.

La microscopie électronique à balayage permet d’obtenir des images micrographies de tous type échantillons tridimensionnels:
MEB/EDAX Analyses de petites particules par microscopie électronique à balayage (MEB) couplée à de l’analyse dispersive en énergie de rayons X (EDAX) est possible sans détruire l’échantillon . MEB /EDX fournit une information qualitative sur les éléments présents dans un particule ou bien sur leur localisation dans un échantillon massif.

MET Microscopie électronique à transmission:
MET est utilise pour la caractérisation de microstructures et nano structures d’une grande variété d’échantillons Cette technique procure des informations sur la morphologie, la cristallographie et et la composition chimique de l’échantillon.

AES /SEA Spectroscopie d’électrons AUGER:
AES/SEA permets d’accéder à la composition chimique des premières couches de surface. Cette technique est très sensible aux éléments légers de faible numéro atomique et peut détecter tous les éléments sauf l’hydrogène et l’hélium.

XRD Diffraction de rayons X:
La diffraction de rayons X sur poudres est utilisée pour caractériser la structure cristalline et le degré de cristallisation de matériaux sous forme de poudres ou bien de solides en suspension , de solides poly cristallins. Et peut être appliquée a des structures multicouches ou films.
AFM Microscopie à force atomique:
AFM caractérise la topographie et les propriétés physique à l’échelle nanométrique. Les images de surfaces obtenues sont proches de la résolution atomique mesurant les forces atomiques à la surface de l’échantillon. Les forces électrostatiques de Van der Waals, capillaires, magnétique et ioniques, permettent d’obtenir des images de la surface de l’échantillon.

XPS /ESCA Spectroscopie de photoélectrons:
XPS permet d’accéder à la composition élémentaire, aux différents états chimiques et l’identification des groupes fonctionnels présent en extrême surface (premières couches atomiques soit de l’ordre de 5 à 10 nanomètres).

SPM Microscopie à champ proche:
SPM permet de mesurer le courant électrique s’écoulant entre la surface de l’échantillon et la pointe du microscope.

Microscopie interférométrique:
C’est un microscope interférométrique non-contact (par conséquent, non-destructif) permet de faire des analyses de surface, de rayures, de rugosité... Les variations de hauteur sont mesurées avec une précision inférieure au nanomètre, permettant de faire l’analyse de la forme d'une surface, sa rugosité et les variations de texture.

Microscopie Optique:
Les microscopes optiques permettent à partir de sources lumineuses and le visble et proche visible .d’obtrenir des images à fort grandissment d’échantillons en surface etsur des échantillons en coupes (cross sections) Les applications couvrent tous les domaines des sciences et de l’industrie (Sciences de la vie ,films , emballages , métallurgie , électronique ,médical).
Intertek Chalon
Demande de renseignements
Domaines d'expertises
Demande de renseignements
English  |  Français
Microstructures et Analyses de surface
Contact Intertek by Telephone France: +33 (0) 385991276
 Contactez-nous ou envoyez-nous un email pour plus d'informations

 Intertek Group, Plc | Intertek OCA Disclaimer | Terms and Conditions