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| Intertek Analyses Chalon > Analyses en microscopie electronique | |
Analyses par microscopie électronique |
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Le laboratoire Intertek Analyses Chalon est équipé d’un Microscope Electronique à Balayage (MEB) Philips XL30 SFEG et d’un Microscope Electronique en Transmission (MET) Philips CM12. Ces deux instruments sont couplés à un Spectromètre à Dispersion en Energie des rayons X. Ces microscopes atteignent une résolution de l’ordre du nanomètre. |
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Microscopie Electronique La Microscopie Electronique est basée sur l’interaction entre les électrons du faisceau incident et l’échantillon. La détection des signaux émis (électrons secondaires, rétrodiffusés et transmis, photons X) permet d’obtenir des informations sur la morphologie, la structure et la composition chimique de l’échantillon. Les microscopes électroniques sont composés de 3 éléments principaux : canon à électrons, colonne électronique et détecteurs. L’ensemble est maintenu sous vide.  Microscopie Electronique à Balayage Le détecteur du MEB collecte les électrons secondaires (SE). Issus de la proche surface de l’échantillon, ils fournissent une image en contraste de topographie. Le microscope électronique à balayage est un appareil d'analyses, pouvant fournir rapidement des informations sur la morphologie et la composition chimique d'un objet solide.  |
Microscopie Electronique en Transmission Le faisceau d’électrons émis par le canon traverse l’échantillon (épaisseur < 100nm). Les électrons transmis, chargés d’information sur la structure de l’échantillon, forment l’image sur un écran fluorescent. Le microscope est équipé d’une caméra CCD pour l’acquisition des images  Spectrométrie à Dispersion en Energie des rayons X (EDX) Cette technique couplée à un microscope électronique renseigne sur la composition en éléments des échantillons. Lors de l’interaction du faisceau d’électrons avec la matière, des rayons X caractéristiques des éléments présents dans l’échantillon sont produits. Le Spectromètre du laboratoire permet l’acquisition d’un spectre en Energie ainsi que la localisation des éléments dans l’échantillon (ligne de profil, cartographie).  |
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Le laboratoire dispose des accessoires nécessaires pour la préparation d’échantillons :
Pour toutes vos demandes d'analyses en mircroscopie électronique, contactez nous au +33 385 99 12 76. |
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France: 
Services globaux, version française
Surface Analysis
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