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Intertek Analytical Services > Analyses et Identification de Particules

Analyse de particules : identification - caractérisation

 

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Intertek offre des services techniques avancés pour la mesure de caractéristiques microscopiques ou de dimensions nanométriques. Ces techniques sont adaptées pour l’analyse de poussières, dépôts, contaminations, particules, résidus dans des filtres et pour de nombreuses autres applications.

Intertek offre également des analyses élémentaires d’échantillons solides, impuretés et d’identification de défauts physiques et chimiques. Nos laboratoires sont disponibles pour vous apporter leur expertise en analyses afin de soutenir vos besoins en recherche et développement, résolution de problèmes, contrôle qualité ou pour répondre a tout autre exigence.

Les techniques d’analyses et de caractérisations de surfaces , microstructures a l’échelle nanométrique comprennent :

AFM: Microscopie à force atomique
XPS/ESCA Spectroscopie de photoelectrons
Microscopie Interférométrique
SPM: Microscopie à effet tunnel
Microscopie Optique
SEA Spectroscopie d’électrons AUGER (AES)
Diffraction de Rayons X

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analyse particules

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Contact Intertek by Telephone France: +33 (0)3 85 99 12 80

mail chalon chalon@intertek.com

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